太陽能教學實驗台設備中關於矽材料檢測測試平台

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在我們(men) 的太陽能教學實驗平台中，有專(zhuan) 門測試矽材料的測試平台。可用於(yu) 矽材料檢測的一些實訓項目，也可用於(yu) 矽材料技術、光伏材料加工及應用技術的一些專(zhuan) 業(ye) 。該太陽能教學實驗台設計精確，可以根據常用的測試項目測試一些矽片或相關(guan) 產(chan) 品的電學性能。該實訓平台可進行的實訓項目有:

1，電導率測試:

太陽能教學實驗平台進行電導率測試的原理是:半導體(ti) 與(yu) 冷熱探針接觸後，由於(yu) 載流子的熱運動與(yu) 溫度有關(guan) ，熱區載流子的熱運動速度快，冷區載流子的熱運動速度慢，因此在冷熱端形成空穴或自由電子的濃度差，從(cong) 而產(chan) 生

2。用四探針法測試矽單晶電阻率:

4探針法是用四個(ge) 針距約為(wei) 1毫米的探針同時壓在矽單晶樣品的平麵上，用恒流源向外部的兩(liang) 個(ge) 探針施加電流，然後用電位計測量中間兩(liang) 個(ge) 探針上的壓降，然後根據推導出的簡化公式，四個(ge) 探針以等間距排列在同一條直線上，此時探針係數為(wei) 常數

在實際測量工作中，為(wei) 了計算方便，經常使電流I等於(yu) 探頭係數C的值，即I=C，因此ρ；=V23時，探針2和3之間測得的電勢差值等於(yu) 樣品的電阻率

3和少數載流子壽命測試:

太陽能教學實驗台采用電脈衝(chong) 和光脈衝(chong) 方法從(cong) 半導體(ti) 中激發不平衡載流子，調節半導體(ti) 的體(ti) 電阻，電導率增加，樣品電阻減小，因此流過樣品的高頻電流幅度增大。通過測量體(ti) 電阻或串聯電阻兩(liang) 端電壓的變化規律，觀察半導體(ti) 材料中不平衡少數載流子的衰減規律，從(cong) 而測量其壽命。

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